Full metadata record
| DC pole | Hodnota | Jazyk |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Zeman, Petr | |
| dc.contributor.author | Haviar, Stanislav | |
| dc.contributor.author | Červená, Michaela | |
| dc.date.accessioned | 2021-05-17T10:00:20Z | - |
| dc.date.available | 2021-05-17T10:00:20Z | - |
| dc.date.issued | 2021 | |
| dc.identifier.citation | ZEMAN, P. HAVIAR, S. ČERVENÁ, M. Self-formation of dual glassy-crystalline structure in magnetron sputtered W–Zr films. Vacuum, 2021, roč. 187, č. MAY 2021, s. „110099-1“-„110099-4“. ISSN 0042-207X. | cs |
| dc.identifier.issn | 0042-207X | |
| dc.identifier.uri | 2-s2.0-85100385504 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11025/43215 | |
| dc.description.abstract | Samovytvoření unikátní duální skelno-krystalické struktury v binárních vrstvách W–Zr bylo pozorováno v případě vrstvy s 28 at.% Zr připravené magnetronovým naprašováním. Vrstva je složena z kónických sloupcových domén tvořených tuhým roztokem α-W(Zr) obklopených amorfními oblastmi kovového skla W–Zr. Kónické domény mají osy kolmé k povrchu vrstvy. Většina těchto domén má pak svůj vrchol na nebo blízko k povrchu substrátu. Tento bod (vrchol) odpovídá také místu primární nukleace. Bylo zjištěno, že poměr skelné a krystalické struktury je ovlivněn tloušťkou vrstvy. Tato duální struktura byla připravena jen ve velmi úzkém rozsahu prvkového složení. Předpokládáme, že konkrétní prvkové složení a difuzivita nebo mobilita rozprášených atomů hrají hlavní roli při samovytváření této duální struktury. | cs |
| dc.format | 4 s. | cs |
| dc.format.mimetype | application/pdf | |
| dc.language.iso | en | en |
| dc.publisher | Elsevier | en |
| dc.relation.ispartofseries | Vacuum | en |
| dc.rights | Plný text není přístupný. | cs |
| dc.rights | © Elsevier | en |
| dc.subject | W–Zr | cs |
| dc.subject | Duální struktura | cs |
| dc.subject | Kovové sklo | cs |
| dc.subject | Tenké vrstvy | cs |
| dc.subject | Magnetronové naprašování | cs |
| dc.title | Self-formation of dual glassy-crystalline structure in magnetron sputtered W–Zr films | en |
| dc.title.alternative | Samovytvoření duální skelno-krystalické struktury v magentronově naprašovaných vrstvách W–Zr | cs |
| dc.type | článek | cs |
| dc.type | article | en |
| dc.rights.access | closedAccess | en |
| dc.type.version | publishedVersion | en |
| dc.description.abstract-translated | The influence of different concentrations (0.5, 1.0, and 2.0 wt.%) of Zinc Oxide (ZnO) filleron the dielectric properties of the cold-curing polyurethane (PU) resin is presented in this study. Forthis purpose, the direct DC conductivity and the broadband dielectric spectroscopy measurementswere used to describe the changes in dielectric responses of PU/ZnO nanocomposites over thefrequency and temperature range, respectively. It can be stated that, the 1.0 wt.% nanoparticlesand lower caused a decrease in the real relative permittivity compared to the pure PU resin, whilethe higher concentration of nanoparticles for frequencies above 1 Hz had the opposite effect. Thepresence of nanoparticles in the polyurethane resin affected the segmental dynamics of the polymerchain and changed a charge distribution in the given system. These changes caused a shift of localrelaxation peaks in the spectra of imaginary permittivity and dissipation factor of nanocomposites.It is suggested that the temperature-dependent transition of the electric properties in the nano-composite is closely associated with theα-relaxation and intermediate dipolar effects (IDE). | en |
| dc.subject.translated | W–Zr | en |
| dc.subject.translated | Dual structure | en |
| dc.subject.translated | Metallic glass | en |
| dc.subject.translated | Thin films | en |
| dc.subject.translated | Magnetron sputtering | en |
| dc.identifier.doi | 10.1016/j.vacuum.2021.110099 | |
| dc.type.status | Peer-reviewed | en |
| dc.identifier.document-number | 635477600004 | |
| dc.identifier.obd | 43932141 | |
| dc.project.ID | LO1506/PUNTIS - Podpora udržitelnosti centra NTIS - Nové technologie pro informační společnost | cs |
| dc.project.ID | SGS-2019-031/Nové tenkovrstvé materiály vytvářené pokročilými plazmovými technologiemi | cs |
| Vyskytuje se v kolekcích: | Články / Articles (NTIS) Články / Articles (KFY) OBD | |
Soubory připojené k záznamu:
| Soubor | Velikost | Formát | |
|---|---|---|---|
| OBD21_Zeman,Haviar,Cervena_clanek.pdf | 3,46 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít Vyžádat kopii |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/43215Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.