Název: Scintillation breakdowns in tantalum capacitors
Autoři: Teverovsky, Alexander
Citace zdrojového dokumentu: Electroscope. 2008, Konference EDS 2008.
EDS '08 IMAPS CS International Conference Proceedings. Brno, VUT v Brně, 2008.
Datum vydání: 2008
Nakladatel: Západočeská univerzita v Plzni, Fakulta elektrotechnická
Typ dokumentu: konferenční příspěvek
conferenceObject
URI: http://147.228.94.30/images/PDF/Rocnik2008/EDS_2008/teverovsky.pdf
http://hdl.handle.net/11025/522
ISBN: 978-80-214-3717-3
ISSN: 1802-4564
Klíčová slova: scintilace;tantalové kapacitory
Klíčová slova v dalším jazyce: scintillation;tantalum capacitors
Abstrakt v dalším jazyce: Scintillations in tantalum capacitors are momentarily local breakdowns terminated by a self-healing, or conversion of the manganese oxide used as a cathode to a high-resistive mode. Similar breakdown events are often considered as nuisances, rather than failures. The author argues that a time-dependent sustained scintillation breakdown can be considered as a major reason of failures during steady-state operation of the capacitors. Analysis of distributions of scintillation breakdown voltages and assessment of the safety margins are critical to assure high quality and reliability of tantalum capacitors.
Práva: Copyright © 2007-2010 Electroscope. All Rights Reserved.
Vyskytuje se v kolekcích:2008
Konference EDS 2008 (2008)

Soubory připojené k záznamu:
Soubor Popis VelikostFormát 
teverovsky.pdf214,46 kBAdobe PDFZobrazit/otevřít


Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam: http://hdl.handle.net/11025/522

Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.