Full metadata record
DC pole | Hodnota | Jazyk |
---|---|---|
dc.contributor.advisor | Rezek Jiří, Ing. Ph.D. | |
dc.contributor.author | Polák, Michal | |
dc.contributor.referee | Rusňák Karel, Doc. RNDr. CSc. | |
dc.date.accepted | 2024-6-21 | |
dc.date.accessioned | 2024-07-12T09:15:39Z | - |
dc.date.available | 2023-10-15 | |
dc.date.available | 2024-07-12T09:15:39Z | - |
dc.date.issued | 2024 | |
dc.date.submitted | 2024-5-30 | |
dc.identifier | 97093 | |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/11025/57323 | - |
dc.description.abstract | Tato bakalářská práce se zabývá zkoumáním optických a strukturních vlastností transparentních vodivých oxidů (TCO; transparent conductive oxides), specificky oxidů mědi dopovaných dusíkem. Jsou vysvětleny základy problematiky TCO a metody měření vlastností těchto materiálů, konkrétně elipsometrie a Ramanova spektroskopie. Tyto metody jsou použity na změření vlastností vzorků tenkých vrstev Cu\dindex{2}O dopovaných dusíkem, vyrobených reaktivním magnetronovým naprašováním při rozdílných vstupních podmínkách (teplota výroby, průtok reaktivního plynu). Pro práci jsou důležité primárně hodnoty indexu lomu vrstev, extinkčního koeficientu, šířky zakázaného pásu, a polohy píků Ramanova spektra vzorků, to vše v závislosti na energii světla interagujícího s tenkou vrstvou. Různé podmínky výroby materiálu mohou měnit vnitřní strukturu vrstvy a tím průběh výsledných závislostí zkoumaných parametrů. Jsou porovnávány zjištěné hodnoty všech veličin a změny vlastností v závislosti na výrobních podmínkách, mezi sebou i s dalšími pracemi publikovanými o podobných materiálech. | cs |
dc.format | 37 s. | |
dc.language.iso | cs | |
dc.publisher | Západočeská univerzita v Plzni | |
dc.rights | Plný text práce je přístupný bez omezení | |
dc.subject | tco | cs |
dc.subject | transparentní vodivé oxidy | cs |
dc.subject | cu2o | cs |
dc.subject | reaktivní magnetronové naprašování | cs |
dc.subject | elipsometrie | cs |
dc.subject | ramanova spektroskopie | cs |
dc.title | Vyšetřování optických a strukturních vlastností tenkých vrstev Cu\dindex{2}O dopovaných dusíkem | cs |
dc.type | bakalářská práce | |
dc.thesis.degree-name | Bc. | |
dc.thesis.degree-level | Bakalářský | |
dc.thesis.degree-grantor | Západočeská univerzita v Plzni. Fakulta aplikovaných věd | |
dc.thesis.degree-program | Aplikovaná fyzika a fyzikální inženýrství | |
dc.description.result | Obhájeno | |
dc.description.abstract-translated | This bachelor thesis examines optical and structural properties of transparent conductive oxides (TCO), particularly copper oxides enhanced with nitrogen atoms. Basics of TCO theory and techniques for measuring their parameters are explained, specifically ellipsometry and Raman spectroscopy. Those are then used to measure the properties of thin film samples of nitrogen enhanced Cu\dindex{2}O, created by reactive magnetron sputtering with several different manufacturing conditions (temperature, reactive gas flow rate). The most important parameters for this work are the refraction index, extinction coefficient, band gap energy and Raman peaks, with everything depending on the energy of the light interacting with the used thin film. Different manufacturing conditions can produce a difference in the inner structure of the film and thus change the functions of the examined parameters. The measured data and their potential differences are analyzed and compared between both the different samples and potential literature covering similar materials. | en |
dc.subject.translated | tco | en |
dc.subject.translated | transparent conductive oxides | en |
dc.subject.translated | cu2o | en |
dc.subject.translated | reactive magnetron sputtering | en |
dc.subject.translated | ellipsometry | en |
dc.subject.translated | raman spectroscopy | en |
Vyskytuje se v kolekcích: | Bakalářské práce / Bachelor´s works (KFY) |
Soubory připojené k záznamu:
Soubor | Popis | Velikost | Formát | |
---|---|---|---|---|
Bc_prace_Polak.pdf | Plný text práce | 3,31 MB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
BP_Polak_vedouci.pdf | Posudek vedoucího práce | 43,32 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
BP_Polak_oponent.pdf | Posudek oponenta práce | 429,47 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
ProtokolSPrubehemObhajobySTAG.pdf | Průběh obhajoby práce | 38,18 kB | Adobe PDF | Zobrazit/otevřít |
Použijte tento identifikátor k citaci nebo jako odkaz na tento záznam:
http://hdl.handle.net/11025/57323
Všechny záznamy v DSpace jsou chráněny autorskými právy, všechna práva vyhrazena.